"Solutions Analytiques XRD & XRF" [Equipements RIGAKU]

Analyse quantitative de phases :
La performance du ciment est largement influencée par les phases cristallographiques le constituant. L'identification et la quantification de ces phases peuvent être effectuées par la méthode de diffraction des rayons x (XRD). La précision liée à cette quantification ayant été considérablement améliorée depuis l'implémentation de détecteur rapide et de logiciel permettant une analyse de Rietveld entièrement automatisée.

En ce sens, la gamme des équipements XRD RIGAKU (MiniFlex, UltimaIV & SmartLab) permet de parfaitement répondre à ces attentes tant en terme de précision que de temps d'analyse.

 

Analyse quantitative élémentaire :

La fluorescence des rayons x (XRF) est largement utilisée pour analyser les compositions chimiques des ciments. Cette technique peut être classée en deux catégorie : la fluorescence en dispersion de longueur d'onde (WDXRF) et la fluorescence en dispersion d'énergie (EDXRF). Typiquement, la WDXRF est utilisée dans les industries du ciment en raison de sa haute résolution élémentaire. Comparée à d'autres analyses comme l'analyse chimique par voie humide, la WDXRF présente les avantages suivants que sont la vitesse, la préparation déchantillon et la reproductibilité.

Dans cette note d'application, la précision et la reproductibilité sont examinées sur la base des résultats mesurés avec le spectromètre RIGAKU ZSX PrimusIII+. D'autres systèmes comme le Supermini200, le ZXS PrimusII et le Simultix14 sont également en mesure d'atteindre un niveau de précision et de reproductibilité similaire.

 

 

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