"Mesures Topographiques" [Equipements PARK SYSTEMS]

PARK SYSTEMS NX10

 

Le matériau piézo-électrique a été largement utilisé depuis l'invention de l'AFM en tant qu'actionneur du scanner de positionnement dans un microscope à force atomique. Il a été utilisé non seulement dans l'instrumentation académique, mais dans les produits commerciaux AFM en raison de sa simplicité de structure, et de sa possibilité de se déplacer en continu à l'échelle du nanomètre. Cependant, il a également été associé à un phénomène d'hystérésis et de fluage générant des erreurs qui ont empêché les AFM classiques de fournir une topographie précise d'un échantillon.

 

C'est la raison pour laquelle PARK SYSTEMS a développé l'AFM NX10 et l'a associé à un détecteur Z de très faible bruit permettant ainsi un véritable balayage/suivi de la topographie AFM d'un échantillon.

 

 

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"Mapping et Microanalyse XRF" [Equipement RIGAKU PRIMUS II]

 

RIGAKU PRIMUS IIL’analyse d’échantillons de nature géologique a imposé une nouvelle appréhension de la mesure XRF. En effet si beaucoup d’utilisateurs recherchent une valeur moyenne mesurée sur un échantillon homogène, le géologue ne pourra lui se satisfaire d’une mesure moyenne bien que juste sur un échantillon dont les variations de composition sont à la fois importantes et rapprochées.

 

RIGAKU a développé un système de microanalyse XRF et de cartographie (Mapping) basé sur trois améliorations techniques :

[1] Visualisation de la surface totale de l’échantillon  grâce à une caméra CCD équipée d’un zoom.

[2] Installation d’un collimateur circulaire de 500µm couplé à une platine motorisée de grande précision.

[3] Création d’un programme de synthèse cartographique qui permet de visualiser les cartographies en 2 ou 3 dimension, mais également de procéder à des lignes de profil ou plus simplement à des séries de points préalablement enregistrées.

 

D’autres fonctions dérivent de ces améliorations. C’est le cas de la superposition de spectres issus de zone de mesure différentes ou encore de la quantification au point par point.

 

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"Analyse SQX" [Equipement RIGAKU SUPERMINI 200]

Le programme d’analyse RIGAKU SQX permet de faire une mesure semi-quantitative des éléments contenus dans l’échantillon. Grace à la méthode théorique des paramètres fondamentaux et à la base de données interne du logiciel, le résultat est obtenu sans l’utilisation d’échantillons de référence. Le calcul se fait à partir d’une analyse séquentielle de tous les éléments compris entre le Fluor et l’Uranium en tenant compte des chevauchements de pics.

L’analyse SQX permet donc d’obtenir un résultat rapide et fiable de la composition d’échantillons multiéléments inconnus. Tous les éléments compris dans la gamme F-U de l’échantillon sont identifiés sans l’assistance de l’utilisateur.

 

Méthode Scatter FP : Estimation des éléments non mesurables en XRF.

Cette fonction est intégrée au programme d’analyse SQX. Elle permet de de quantifier les éléments tres légers non mesurables (Carbone, Hydrogène, Oxygène) mais majoritaires dans les échantillons généralement de type organiques.

Par exemple d’un échantillon à l’autre, la variation d’humidité influence fortement le résultat des éléments minoritaires. Une quantification correcte de la proportion d’eau permettra d’améliorer de manière significative la mesure des éléments d’intérêt.

Cette méthode de calcul se base sur les variations de formes du pic diffracté par l’échantillon.

 

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