FIB Focus Ion Beam NX-9000 Hitachi

Hitachi High-Technologies

NX 9000 Hitachi

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Le FIB NX-9000 HITACHI présente une géométrie unique sur le marché. La colonne ionique à forte densité de courant et la colonne électronique ultra-haute résolution sont perpendiculaires. 

Cette configuration est particulièrement optimisée pour l'acquisition de séries d'images à très haute résolution en vue d'une reconstruction 3D.

Une platine motorisée 5 axes extrêment précise, le dispositif breveté "Micro Sampling" un dispositif d'injection de gaz, un support de protection de l'échantillon en cas de sensibilité à la pression atmosphérique, des équipements d'analyse chimique (EDX) et structurale (EBSD) complètent les caractéristiques du FIB Hitachi NX9000. 

 

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