Microscope à force atomique Park Systems NX-BIO

Park Systems

Trois microscopies nanométriques sur une seule et même plate-forme innovante

NX-BIO

L’équipement Park Systems NX-Bio est le seul système d’imagerie à combiner sur une même plateforme un microscope par conductance ionique (SICM), un microscope à force atomique (AFM) disposant du mode « true non-contact » ainsi qu’un microscope optique inversé.

 

Cette plateforme est de ce fait parfaitement adaptée aux chercheurs en biologie désirant analyser des échantillons à l'échelle nanométrique.

 

-AFM de haute précision issu de la gamme Park Systems NX et disposant de scanners découplés ainsi que de la technologie brevetée « True Non Contact ».

-Imagerie  haute résolution par l’intermédiaire d’un microscope inversé intégré.

-Imagerie haute définition de cellules vivantes par l’intermédiaire de la fonctionnalité SICM.

 

 

SCANNER 

XY : 100µm x 100µm

Z : 25µm

 

OPTIQUE 

Compatible avec les microscopes inversés :

-          Zeiss (Axio Observer Z.1)

-          Nikon (Ti-S, Ti-U, Ti-E)

 

Compatible avec les microscopes confocaux et les techniques fluorescentes

 

STAGE 

XY : 14mm

Z : 14mm

Taille échantillon : < 50x50mm ; épaisseur < 20mm

 

 tl_files/elexience/productPhysique/Microscopie a force atomique/Park systems NXBIO.jpg

 

Cliquez ici pour avoir plus d'informations sur le produit.

Cliquez ici pour visiter le site en Français.

9, rue des petits-ruisseaux | BP 61 | 91371 Verrières-le-buisson Cedex | FRANCE | Tel : +33 (0)1 69 53 80 00 | Fax : +33 (0)1 60 11 98 09 | Plan d'accès | Mentions légales