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Diffractomètres X Matériaux

NOUVEAU DIFFRACTOMETRE X MATERIAUX SMARTLAB RIGAKU

Le SmartLab, fer de lance de la gamme Rigaku, a été introduit en 2006. De nouvelles technologies de pointe ont été apportées régulièrement au fil des ans.

Ce nouveau diffractomètre X à haute résolution SmartLab offre de meilleures performances dans toutes les applications de diffraction ou de diffusion des rayons X. Son nouveau logiciel Smartlab Studio II fournit à l’utilisateur une interface intelligente qui le guide à travers les subtilités de chaque expérience : c’est comme avoir un expert à vos côtés.

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SmartLab_brochure.pdf
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FIB triple faisceau

Ethos-NX 5000 Hitachi : FIB Triple Faisceau

FIB Triple Faisceau hautes performances HITACHI ETHOS NX5000
Le nouveau FIB d’HITACHI polyvalent pour une préparation d’échantillons de qualité ultime
  • Colonne SEM « Aquila » ultra haute résolution avec canon à cathode froide
  • Colonne ionique Ga à forte densité de courant pour un usinage précis et très rapide
  • Canon Argon/Xenon pour la finition délicate des coupes et la minimisation des dégâts d’irradiation
  • Platine et dispositif de manipulation de l’échantillon 7 axes permettant une orientation optimisée, omni directionnelle
  • Chambre volumineuse, platine grands déplacements et nombreux ports permettant l’adaptation de nombreux dispositifs complémentaires (Eds, Ebsd, Cryo, etc…)

Caractéristiques principales

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Microscope à Champ Proche Infrarouge

« Vista-IR » Molecular Vista Microscope nano FTIR

Sa technique unique brevetée de microscopie à force photo-induite (PiFM) mesure la réponse optique du champ proche de l'échantillon par détection de force mécanique, rendant la technique robuste et facile à utiliser. Le spectre PiFM fiable et répétable obtenu offre un spectre "nano-FTIR" en moins d'une seconde.

Le Vista-IR est équipé d'un laser infrarouge avec la plus large gamme de réglages et la meilleure stabilité du faisceau. Le même laser peut être utilisé pour l'imagerie, une acquisition de spectre extrêmement rapide, et même pour des techniques supplémentaires telles que la microscopie de champ proche s-SNOM. Beaucoup de fonctionnalités automatisées et d'aide à l'utilisateur rendent l'outil robuste et aussi simple que l'utilisation d'un AFM standard.

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Equipements de préparation d'échantillons pour MET

GV10x IBSS Nettoyeur plasma « in-situ » et « ex-situ »

Notre fournisseur IBSS Group offre différentes solutions innovantes de décontamination par plasma faible énergie, pour la microscopie électronique (MEB, MET, FIB et CDSEM)

La décontamination par plasma est l’une des méthodes les plus efficaces pour réduire et éliminer la contamination des échantillons, permettant ainsi d’améliorer très significativement l’imagerie à basse énergie.

Les systèmes de décontamination IBSS possèdent plusieurs configurations possibles. Ils peuvent être utilisé en nettoyage in situ dans les chambres des microscopes électronique et/ou ex-situ pour nettoyer la surface des échantillons sans endommager leurs topographies et fournissant un environnement de stockage.

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Brochure GV10x - IBSS Group.pdf
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Microscope / Tomographe acoustique Fine SAT V

Microscope / tomographe acoustique Fine SAT V

Hitachi introduit un nouveau microscope/tomographe acoustique: le modèle Fine SAT V.
Plus rapide (vitesse de balayage jusqu'à 2000mm/s), plus précis (scanner haute définition permettant d'acquérir jusqu'à 2000 millions de points), plus résolutif (défauts visibles à partir du micromètre), le Fine SAT V est pourvu d'une ergonomie optimisée (chargement rapide et sans risque des échantillons, visualistaion de l'échantillon en cuors d'analyse).

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Hitachi Power Solutions (5000 employés) est le leader mondial sur le marché de la microsocopie acoustique avec plus de 2100 équipements installés dans le monde. Présent depuis 1983, et principalement présent en Asie jusqu'ici, Hitachi Power Solutions introduit un nouveau modèle "Fine SAT V" pour répondre aux besoins des marchés européen et américain.

Equipement d'inspection non, le microscope/tomographe acoustique est principalement utilisé pour identifier des défauts (trou/void, décollement de matière/ddelamination) de taille supérieure ou égale au micromètre. Il s'agit d'une technique non destructive. Un large choix de sondes (jusqu'à 300MHz) développées et produites par Hitachi Power Solutions permet de parfaitement adapter les possibilités de la technique aux différents matériaux et aux dimensions recherchées. 

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Caractéristiques principales du modèle Fine SAT V:

Gamme de fréquences: jusqu'à 500MHz
Sondes: fréquences à partir de 5MHz
Dimensions mesurées: 350mm (X), 350mm (Y), 80mm (Z)
Scanner haute précision et ultra rapide
Vitesse maximale: hjusqu'à 2000mm/s
Définition: 400 millions de points (2000 millions en option) - processeur 64 bits
Modes "reflexion" et "transmission"
Poids: 470kgs

Lien vers la vidéo de présentation

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HITACHI FINESAT V Brochure.pdf
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Diffractomètres X Matériaux

Diffractomètre X de table MiniFlex Rigaku

Rigaku introduit sa sixième génération de diffractomètre à rayons X (XRD) de table.

Le nouveau diffractomètre à rayons X MiniFlex est un instrument analytique polyvalent qui peut déterminer : l'identification et la quantification de la phase, la cristallinité en pourcentage (%), la taille et la contrainte des cristallites, le raffinement des paramètres de réseau, le raffinement Rietveld et la structure moléculaire.

Grâce à des avancées technologiques novatrices, le MiniFlex de sixième génération peut être utilisé dans les modes 0D et 1D pour une analyse XRD conventionnelle mais aussi dorénavant en mode 2D.

Cette nouvelle génération de diffractomètre de table offre, tout en gardant les avantages acquis : faible encombrement et faible consommation, des performances supérieures grâce notamment à la présence de nombreux accessoires tels que :

- détecteur de haute performance en standard,

- passeur automatique,

- monochromateur arrière,

- porte échantillon rotatif.

 Ces nouvelles capacités sont totalement intégrées dans le logiciel PDXL repensé permettant ainsi d'une manière simple et intuitive de répondre à un grand nombre de besoins dans de très nombreux domaines : enseignement, contrôle qualité (corrosion/analyse de défauts), R&D, exploration minière et pétrolière, géologie, mines et ciments, chimie (peinture, revêtements) etc...

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MiniFlex - brochure_en_Ver2_2017.09.05.pdf
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Accessoires pour MET

Caméras très haute sensibilité TVIPS XF416

Caméra pour MET très haute sensibilité TVIPS XF416 adaptée à l’observation de phénomènes fugitifs et d’échantillons très sensibles.

TVIPS propose une nouvelle génération de caméras très haute sensibilité pour les Microscopes Electroniques à Transmission (MET) disponibles pour les MET Fei, Jéol, Hitachi, Zeiss.

Le modèle TemCam XF416 est une caméra 16Mpixels d'architecture CMOS compatible pour la haute résolution et les acquisitions très rapides. Le codage sur 16 bits offre une dynamique exceptionnelle, particulièrement bien adaptée à l'acquisition des clichés de diffraction ou à l’observation d’échantillons très fragiles sous le faisceau.

Spécifications principales:

  • Capteur : 4096 x 4096 pixels
  • Taille du pixel : 15,5 µm x 15,5 µm
  • Zone observable : 63,5 mm x 63,5 mm
  • Dynamique : 20.000 : 1
  • Vitesse de lecture : 32 x16 Megapixels/sec (16 bits)
  • Gamme de tensions : de 20kV à 300kV
  • Vitesse de rafraîchissement : 25 images par seconde (pleine résolution) – 200 images par seconde (4k x 0,5k)

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