NX10 SICM

Atomic Force Microscope AFM

NX10 SICM

Imagerie de pointe à l’échelle nanométrique dans des environnements aqueux

Le Park NX10 Scanning Ion Conductance Microscope (SICM) permet aux chercheurs d’obtenir des mesures précises des échantillons dans des environnements aqueux. Les études d’électrochimie qui utilisent le SICM peuvent à présent associer leurs recherches des mécanismes de réactions en lien avec la chimie redox et d’autres phénomènes avec la possibilité de cartographier la topographie de leurs échantillons. La corrélation entre ces ensembles de données à d’immenses implications pour les applications comme le développement de batteries de nouvelles générations pour lequel le SICM peut mesurer la performance d’une batterie par rapport à sa dégradation à l’échelle nanométrique. Le Park NX10 SICM peut également représenter un avantage considérable pour les travaux en biologie cellulaire. Contrairement à l’AFM, le SICM n’applique aucune force aux échantillons ce qui signifie que les biologistes cellulaires peuvent étudier les cellules vivantes sans les perturber, ouvrant ainsi de nouvelles voies de recherche dans la compréhension du fonctionnement de ces unités de vie. Le module SICM du Park NX10 peut également être acheté en tant qu’option à votre AFM Park NX10 permettant ainsi une transition facile entre ces deux techniques et créant un outil encore plus complet pour l’analyse de spécimens.

 

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