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Cette page LinkedIn sera uniquement dédiée à la vie de notre département d’Instrumentation Scientifique et viendra compléter l’E-Actu. Nous y publierons les nouveautés de nos fournisseurs en direct, de nombreuses notes d’applications, nos participations aux salons et colloques... Nous vous réservons plein de surprises au cours de l’année 2019.

Rejoignez-nous vite sur notre page :

Le système EBSD Thermo Scientific™ Lumis de dernière génération représente la solution la plus aboutie actuellement en termes de sensibilité et de rapidité combinés.
 
Le capteur CMOS très faible bruit 2,3Mpixels, de forme octogonale, assure une efficacité de collection optimale.
La nouvelle électronique d’acquisition Pathfinder 2.0 garantit une vitesse d’acquisition et de traitement des clichés de diffraction impressionnante.
 
La suite logicielle sous Windows 10/64 bits met à la disposition des utilisateurs les outils de traitement les plus avancés (Boundary analysis, Texture analysis, Angular filtering, Schmid factor mapping, Pattern quality mapping, etc…)
 
Le détecteur FSD 5 segments, très haute sensibilité, produit des images de haute qualité, et renseigne ainsi l’utilisateur sur les informations structurales de son échantillon, les plus fines.

Avancées en microscopie à force atomique : PinPoint & Microscopie à Force Piézoélectrique – une technique d'imagerie sans friction (Séminaire et démonstration)

DATE :

Mardi 20 novembre, 14h30-16h30

PROGRAMME :

14h30 : Accueil et introduction

14h40 : « PinPoint & Microscopie à Force Piézoélectrique – une technique d'imagerie sans friction »

15h30 : Démonstration de l’équipement AFM Park Systems NX10

16h15 : Discussion autour d’un verre

RESUME :

Le couplage électromécanique dans les matériaux est une propriété clé qui fournit des fonctionnalités à une variété d'applications, notamment les capteurs, les actionneurs, les détecteurs infrarouges, la récupération d'énergie et la biologie.

La plupart des matériaux présentent un couplage électromécanique dans des domaines de taille nanométrique. Par conséquent, pour comprendre les relations entre la structure et la fonction de ces matériaux, une caractérisation à l'échelle nanométrique est nécessaire. Cette propriété de couplage électromécanique peut être directement mesurée de manière non destructive en utilisant la microscopie à force piézoélectrique (PFM), une méthode bien établie en microscopie à force atomique.

La PFM conventionnelle est généralement réalisée en mode contact. Le mode contact présente toutefois des défis pour une grande variété d'échantillons (par ex. la caractérisation d'un film mince de phénanthrène recuit sur une surface d'ITO). La principale difficulté de l'imagerie de ces échantillons est due à la formation de nanostructures en forme de bâtonnets en couches minces de phénanthrène, très susceptibles d'être déplacées par une sonde AFM.

C'est la raison pour laquelle Park Systems a récemment développé le mode PinPoint PFM. Contrairement au mode contact standard, en mode PinPoint, la sonde AFM surveille son signal de retour, s’approche de la surface de l’échantillon jusqu’à ce que le seuil de force prédéfini soit atteint et mesure la hauteur du scanner Z. La sonde AFM est ensuite rapidement retirée de la surface à une hauteur définie par l'utilisateur. Pendant l'acquisition des données, le scanner XY arrête complètement le mouvement et aucun mouvement de sonde AFM ne se produit à aucun moment sur la surface de l'échantillon. Cela permet une représentation plus précise de la surface car les nanostructures ne sont pas déplacées de leur position d'origine.

Rejoignez le séminaire et la démonstration pour en savoir plus sur les avantages du mode PinPoint PFM sur un mode PFM conventionnel.

INTERVENANT :

Victor Bergmann – Ingénieur Applications Park Systems

Workshop en anglais.

Merci d'envoyer un email à margaux.welch@milexia.fr pour vous inscrire au workshop. Vous avez aussi la possibilité de vous inscrire sur place au stand « Milexia France » numéro 56.

Le Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Études Structurales (CEMES) du CNRS et l’entreprise Hitachi High Technologies Corporation (HHT) ont officialisé la création d’un laboratoire en commun international : « le premier entre CNRS et une entreprise étrangère ». Cette collaboration permettra le développement d’un nouveau microscope électronique à transmission ultra-rapide « capable de scruter les propriétés de la matière à de très petites échelles de temps et d’espace ». Pour plus d’informations sur ce partenariat inédit, retrouvez le communiqué de presse : ici

La gamme Q Plus (Q150R Plus, Q150T Plus, Q300T Plus) vient remplacer la gamme actuelle Q (Q150R, Q150T, Q300T) et offrent de nouvelles fonctionnalités : un nouvel écran tactile rapide et intuitif, un éclairage LED statuant sur l’état de votre cycle, une notification sonore lorsque votre processus est terminé, un port USB pour les mises à jour et les téléchargements de fichiers. En plus de ces nouveautés, une toute nouvelle série de système Q150V Plus vient compléter cette nouvelle gamme de Q Plus avec un vide ultime de 1 x10-6 mbar. La séries Q150V Plus est disponible en métalliseur Q150V S Plus, en évaporateur Q150V E plus mais aussi en un système combinant métalliseur et évaporateur Q150V ES Plus.

10 au 12 Octobre 2018 - TU Bergakademie Freiberg, en Allemagne

Ce tout 1er Forum NanoScientific Europe pour les utilisateurs AFM qui se concentrera sur le partage et l’échange de la recherche de pointe pour les matériaux et les sciences de la vie. Une session spéciale sera consacrée sur le sujet des « Nanobubbles », un des projets phare du TU Freiberg et de l’Institut Helmholtz Freiberg.

Pour plus d’informations, cliquez ici.

Notre nouveau catalogue pour les accessoires de MEB de table Hitachi est disponible en cliquant ici.

N'hésitez pas à nous contacter pour toutes demandes de prix.

Après 45 ans de succès et dans le cadre de notre intégration dans Milexia Développement, nous sommes heureux de vous annoncer que notre nom va évoluer pour passer de Elexience SAS à Milexia France SAS.

Bien que notre nom et notre logo changent, notre mission, notre vision et la valeur de notre entreprise restent les mêmes. Cette nouvelle étape ne reflète que l'évolution et la croissance de notre entreprise.

Notre nouveau nom, Milexia France SAS est maintenant effectif. Notre structure juridique et notre numéro d’immatriculation restent inchangés.Vous n’avez simplement qu’à considérer notre nouveau nom pour vos futurs contrats et commandes.

Découvrez les derniers MEB de table Hitachi : le TM4000 et le TM4000Plus.

Un site dédié aux Microscopes Electroniques à Balayage de Table Hitachi est consultable en cliquant ici.

Pour plus d'informations, n'hésitez pas à nous contacter.

Nouveau contrat de représentation conclue entre ELEXIENCE et la société MOLECULAR VISTA.

MOLECULAR VISTA, société américaine implantée en Californie à San José, développe et commercialise des microscopes à champ proche spécialisés dans les techniques IR-AFM et PiFM-AFM.

Hitachi High Technologies acquiert la Division Analyse Industrielle d’Oxford Instruments.

Rigaku Europe (RESE), actuellement implanté à Ettlingen (Allemagne) déménage prochainement de à Francfort.

Ce changement de localisation géographique s’accompagnera d’une évolution de l’organisation commerciale.

Une personne en cours de recrutement aura pour mission principale de suivre le marché français en étroite collaboration avec Elexience son distributeur historique.

Park Systems renforce sa présence pour le marché européen et ouvre un bureau en Allemagne à Heidelberg.

Ludger Weisser, son Directeur, a une longue expérience dans ce secteur d’activité et a notamment travaillé chez Asylum Research auparavant en tant que Directeur Commerical Europe.

Un laboratoire d’applications est dorénavant à la disposition de nos clients avec plusieurs équipements à disposition.