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Organisée du 8 octobre au 10 octobre 2019 à l’Institut Charles Sadron à Strasbourg, cette formation a pour but de:

• Connaitre les diverses méthodes de congélation d’échantillons solvatés et les méthodes standards de préparation d’échantillons
• Savoir préparer un échantillon en solvants aqueux et organique
• Découvrir l’utilisation du système cryo MEB disponible
• Découvrir les conditions optimales pour l’observation sous le faisceau électronique
• Savoir reconnaitre les artéfacts de préparation les plus courants

Avec des cours théoriques (5h) et beaucoup de travaux pratiques (12h), cette formation conviendra à toute personne souhaitant s’initier à la cryo-microscopie et ayant des bases en MEB ainsi que toute personne souhaitant caractériser par cryo MEB des échantillons de type matière molle.

Intervenants : M. SCHMUTZ, A. CARVALHO (ICS) et A. BONNOTTE (ICB)

Pour plus d’informations et pour vous inscrire, cliquez ici

Nous serons présents au CIM 2019 les 24-25-26 septembre à Paris expo Porte de Versailles, Hall 4.

Ce salon se déroulera en même temps que le salon "Measurement Word" et les badges permettent l'accès aux deux salons.

Des surprises vous attendent...Nous vous invitons à nous rejoindre sur notre stand Milexia France H51 afin de découvrir ou de redécouvrir notre savoir-faire et nos derniers équipements.

Le Congrès International de Métrologie rassemble biennalement tous les acteurs dans le domaine de la métrologie. Il s’agit à la fois d’un congrès sur les évolutions des technologies et processus de mesure et d’un lieu de rencontre entre industriels, experts et scientifiques.

CREER VOTRE BADGE GRATUIT!

Dr Nozman (Youtubeur très connu, spécialisé en vulgarisation scientifique) est venu nous rendre visite chez MILEXIA FRANCE pour tester notre MiniMEB Hitachi TM4000Plus.

Quelle fierté !!!

Lien de la vidéo ici.

Si vous avez des questions concernant nos équipements, n'hésitez pas à nous contacter.

Le Chiaro est une variante améliorée du MCA pour répondre aux exigences et aux méthodes innovantes d’observation au MET notamment pour les porte-échantillons utilisant des échantillons gazeux et liquides. Il permet entre autres le contrôle des fuites, des puces E-Chip, l’hydrophilisation de la surface des échantillons en plus du nettoyage par plasma. Le chargement des porte-échantillons MET, facilité par sa porte pivotante, peut être contrôlé en observant à travers la loupe binoculaire offrant jusqu’à x5 de grandissement. Le tout pouvant être enregistré via une caméra intégrée.

Hitachi High Technologies confie la représentation de sa gamme de microscopes à force atomique/à champ proche de laboratoire (AFM) à Milexia France

Trois modèles sont commercialisés :
AFM 5100N : compact, polyvalent, multi-modes
AFM 5300E : pour les mesures en conditions « environnementales » (sous vide, en température, sous humidité contrôlée, en milieu liquide)
AFM 5500 : pour les grands échantillons, automatisé, avec fonction d’imagerie corrélative SAEMIC (AFM/MEB)

Nous avons assuré le service et l’assistance technique pour de nombreux produits Emitech et Polaron devenus obsolètes au fil du temps. Quorum et par conséquence Milexia ne peuvent malheureusement plus assurer l’approvisionnement des pièces détachées pour un certain nombre d’équipements, devenus trop anciens.

En revanche, Milexia et Quorum assurent toujours l’approvisionnement de plusieurs consommables tels que les cibles, les tresses et les crayons de carbone. Cette liste n’est pas exhaustive, n’hésitez pas à nous consulter.

Vous trouverez, ci-dessous, la liste des produits concernés.

La liste complète des équipements Quorum obsolète est disponible en cliquant ici.

Nous pouvons vous proposer des solutions alternatives avec reprise de votre équipement.

Si vous êtes intéressés, merci de nous faire parvenir votre réponse avant fin septembre par mail: camille.soukhavong@milexia.fr

Une solution peu onéreuse et extrêmement simple de mise en œuvre pour supprimer les dépôts hydrocarbonés en surface de vos échantillons avant leur observation au microscope électronique à balayage.

Cette caméra très haute sensibilité de technologie CMOS est particulièrement bien adaptée aux Sciences de la Vie. Le capteur ultra large contient 43 Mega pixels.

L’ AMT Nano Sprint 43 peut être installée en position « Bottom View » ou en position « Side View ».

Les MEB Hitachi SU3800 et SU3900 intègrent une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.

HITACHI HIGH TECHNOLOGIES introduit un nouveau détecteur d’électrons transmis « STEM » spécifique pour ses MEB de table et MEB compact (TM4000 Plus, Flex SEM) ainsi que pour sa gamme de MEB à filament de tungstène.

Très simple de mise en place et de mise en œuvre, ce détecteur augmente considérablement les possibilités d’observation déjà fort intéressantes des modèles notamment des modèles TM4000Plus et Flex SEM, déja équipés de détecteurs SE et BSE.

La société Sensofar, un des leaders mondiaux dans le domaine de la profilomètrie optique sans contact a choisi Milexia France pour commercialiser ses équipements de la gamme « metrology » sur le marché français.

Deux nouveaux modèles sont introduits :

-S neox

-S neox Five Axis

Venez rencontrer Milexia France et les spécialistes de Sensofar lors du salon Forum Labo (du 26 au 28 mars)

Toujours plus polyvalent, ce microscope électronique à balayage peut être utilisé comme MEB de table (Tabletop SEM, MEB de paillasse) ou comme MEB conventionnel.

Le nouveau détecteur UVD 2.0, spécifique au mode « pression variable » ou « low vacuum » a un rapport signal sur bruit amélioré de 50% et produit des images topographiques très fines.

En mode vide poussé, le détecteur UVD 2.0 peut être utilisé comme un détecteur de cathodoluminescence. Il complète les détecteurs standards d’électrons secondaires Everhart-Thornley (SE) et d’électrons rétrodiffusés haute sensibilité à 5 segments (BSE). Un logiciel très performant de reconstruction d’images 3D, développé en collaboration avec la société Digital Surf, renseigne quantitativement sur le rugosité de l’échantillon et ses caractéristiques de surface.

Un système de prise de vue optique de l’échantillon, en couleur, permet un repérage facile et précis des zones à observer ensuite sous le faisceau d’électrons.

Pour plus d'information, cliquez ici

Le nouveau MEB à effet de champ analytique ultra haute résolution à cathode chaude HITACHI SU7000 répond aux nouvelles exigences toujours plus pointues et toujours plus variées des unités de recherche avancée ou des services de contrôle qualité industriels.

Le SU7000 combine l’ultra haute résolution (moins d’1nm sur toute la gamme de tensions d’accélération) et des performances analytiques exceptionnelles (courant de sonde max de 200nA, distance analytique de 6mm pour tous les détecteurs).

Equipé d'une très grande chambre, le SU7000 dispose de 18 ports d’accès pour l’installation de dispositifs complémentaires. La platine eucentrique très grands déplacements, motorisée sur les 5 axes, est robuste et facilement accessible de l’extérieur de la chambre pour la mise en place des échantillons

Le SU7000 dispose du mode « Low vacuum », avec ajustement de la pression de consigne dans la chambre dans une large gamme, jusqu’à 300 Pa.

Cette page LinkedIn sera uniquement dédiée à la vie de notre département d’Instrumentation Scientifique et viendra compléter l’E-Actu. Nous y publierons les nouveautés de nos fournisseurs en direct, de nombreuses notes d’applications, nos participations aux salons et colloques... Nous vous réservons plein de surprises au cours de l’année 2019.

Rejoignez-nous vite sur notre page :

Le système EBSD Thermo Scientific™ Lumis de dernière génération représente la solution la plus aboutie actuellement en termes de sensibilité et de rapidité combinés.
 
Le capteur CMOS très faible bruit 2,3Mpixels, de forme octogonale, assure une efficacité de collection optimale.
La nouvelle électronique d’acquisition Pathfinder 2.0 garantit une vitesse d’acquisition et de traitement des clichés de diffraction impressionnante.
 
La suite logicielle sous Windows 10/64 bits met à la disposition des utilisateurs les outils de traitement les plus avancés (Boundary analysis, Texture analysis, Angular filtering, Schmid factor mapping, Pattern quality mapping, etc…)
 
Le détecteur FSD 5 segments, très haute sensibilité, produit des images de haute qualité, et renseigne ainsi l’utilisateur sur les informations structurales de son échantillon, les plus fines.

Notre nouveau catalogue pour les accessoires de MEB de table Hitachi est disponible en cliquant ici.

N'hésitez pas à nous contacter pour toutes demandes de prix.

Découvrez les derniers MEB de table Hitachi : le TM4000 et le TM4000Plus.

Un site dédié aux Microscopes Electroniques à Balayage de Table Hitachi est consultable en cliquant ici.

Pour plus d'informations, n'hésitez pas à nous contacter.