Microscope Electronique à Balayage (MEB) de table MiniMEB® TM4000 II/TM4000Plus II
Hitachi introduit la 5ème génération de MiniMEB® avec positionnement optique de l’échantillon. Avec plus de 3700 unités installées dans le monde, Hitachi confirme sa position de leader mondial du marché des Microscopes Electronique à Balayage de table (appelés aussi MiniMEB™ ou MEB de paillasse).
Le MEB Hitachi SU3800 intègre une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.
MEB très grande chambre à pression variable SU3900
Le MEB Hitachi SU3900 intègre une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.
MICROSCOPE ELECTRONIQUE À EFFET DE CHAMP À PRESSION VARIABLE SU7000
Le nouveau MEB à effet de champ analytique ultra haute résolution à cathode chaude HITACHI SU7000 répond aux nouvelles exigences toujours plus pointues et toujours plus variées des unités de recherche avancée ou des services de contrôle qualité industriels.
Microscope Electronique à Transmission basse tension (META) HT-7800 Hitachi
MET 120 kV de nouvelle génération, entièrement numérique à l’ergonomie optimisée. Le MET Hitachi HT7800 basse tension a été conçu pour un large éventail de domaines, de la R&D biomédicale aux nanomatériaux. Il convient pour l'observation des échantillons fragiles et les polymères. C'est également la solution idéale pour les laboratoires d'analyse de l'amiante (META).
Métalliseurs (standards et haute résolution) Quorum Technologies
Références des métalliseurs sous vide primaire : SC7620 – Q150R S Plus
Références des métalliseurs sous vide secondaire : Q150T S Plus – Q150V S Plus – Q300TT Plus – Q300TD Plus –
Possibilité de combiner métalliseurs et évaporateurs carbone sur un même système (Références : SC7620 – Q150R ES Plus – Q150T ES Plus – Q150V ES Plus – Q150GB)
Références des évaporateurs sous vide primaire : Q150R E Plus
Références des évaporateurs sous vide secondaire : Q150T E Plus – Q150V E Plus – K975X – K975S
Possibilité de combiner métalliseurs et évaporateurs carbone sur un même système (Références : Q150R ES Plus – Q150T ES Plus – Q150V ES Plus – Q150GB)
Notre fournisseur IBSS Group offre différentes solutions innovantes de décontamination par plasma faible énergie, pour la microscopie électronique (MEB, MET, FIB et CDSEM)
Obtenez des images transmises de haute qualité dans votre MEB Hitachi à moindre coût par rapport à un système STEM dédié avec le tout nouveau support UVD STEM. Le support UVD STEM utilise le détecteur SE à pression variable d'Hitachi et la technologie de scintillateur très haute sensibilité pour permettre la collecte d'images de transmission à haute résolution et à faible bruit.
Notre fournisseur IBSS Group offre différentes solutions innovantes de décontamination par plasma faible énergie, pour la microscopie électronique (MEB, MET, FIB et CDSEM)
Le système EBSD Thermo Scientific ™ Lumis de dernière génération représente la solution la plus aboutie actuellement en termes de sensibilité et de rapidité combinées.
S neox : profilomètre optique 3D hautes performances
Le nouveau profilomètre optique 3D sans contact, de cinquième génération, SENSOFAR S NEOX procure une rapidité de production des images et des résultats d’analyse inégalée.
S neox Five Axis : profilomètre optique 3D hautes performances avec déplacements de l’échantillon sur cinq axes
Le nouveau profilomètre optique 3D sans contact, SENSOFAR S NEOX Five Axis procure une rapidité de production des images et des résultats d’analyse inégalée.
Le profilomètre optique 3D sans contact compact SENSOFAR S LYNX offre une grande variété de fonctionnalités. 3 technologies complémentaires sont intégrées : Confocale, Interférométrie, Variation de Focus, procurant de multiples possibilités d’observation et d’analyse tridimensionnelle quelque soit la nature de l’échantillon et des informations de surface recherchées.
Le module de profilomètre optique 3D sans contact SENSOFAR S MART peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels.
Le module de profilomètre optique 3D sans contact ultra rapide SENSOFAR S ONYX peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels nécessitant la plus grande vitesse d’acquisition et de traitement des données.
Sa technique unique brevetée de microscopie à force photo-induite (PiFM) mesure la réponse optique du champ proche de l'échantillon par détection de force mécanique, rendant la technique robuste et facile à utiliser. Le spectre PiFM fiable et répétable obtenu offre un spectre "nano-FTIR" en moins d'une seconde.
Hitachi introduit un nouveau microscope/tomographe acoustique: le modèle Fine SAT V.
Plus rapide (vitesse de balayage jusqu'à 2000mm/s), plus précis (scanner haute définition permettant d'acquérir jusqu'à 2000 millions de points), plus résolutif (défauts visibles à partir du micromètre), le Fine SAT V est pourvu d'une ergonomie optimisée (chargement rapide et sans risque des échantillons, visualistaion de l'échantillon en cuors d'analyse).
