Fournisseurs

• Caméras CCD haute résolution et haute sensibilité

Porte-Echantillons/Systèmes pour les expérimentations « in-situ » en microscopie électronique à transmission

• Wildfire (étude en dynamique de modifications par chauffage)
• Lightning (polarisation et chauffage)
• Climate (injection de gaz et chauffage pour l’étude des catalyseurs)
• Stream (étude de phénomènes dynamiques en milieu liquide)

• Détecteurs BSE, cathodo, STEM
• Caméras infrarouges
• Accesssoires pour MEB de table - MiniMEB Hitachi TM1000, TM3000, TM3030, TM3030+, TM4000, TM4000+
• Accessoires divers

Pour la France, la Belgique Wallonne, le Luxembourg, la Suisse Romande, l'Algérie et le Maroc.

• Microscopes Electroniques à Balayage à pression variable
• Microscopes Electroniques à Balayage à effet de champ
• Microscopes Electroniques à Balayage de table
• FIB Focused Ion Beam
• Microscopes Electroniques à Transmission basse tension
• Microscopes Electroniques à Transmission haute tension
• STEM Scanning par Transmission
• Systèmes de mesure de l'Overlay
• Microscopes électroniques de revue de défauts
• Système d'inspection optique ou électronique

• Spectromètres de fluorescence X par dispersion d'énergie
• Analyse Thermique

• Microscopes acoustiques/ Tomographes acoustiques (SAT)

• Système de décontamination d’échantillons (MEB & MET) par plasma, ex-situ et in-situ

• MOLECULAR VISTA, société américaine implantée en Californie à San José, développe et commercialise des microscopes à champ proche spécialisés dans les techniques IR-AFM et PiFM-AFM

• Stations de numérisation d'images
• Bases de données
• Contrôle et gestion d'équipements à distance

• Métalliseurs
• Evaporateurs
• Appareil de décharge luminescente
• Lyophilisateur
• Appareil pour point critique
• Platines cryogéniques
• Platine refroidie à effet Peltier
• Réacteur à plasma

• Spectromètres de fluorescence X par dispersion de longueur d'onde, dédiés à l’industrie des semiconducteurs (Wafer Analyzer)
• Spectromètres de fluorescence X en incidence rasante, par dispersion de longueur d'onde, dédiés à l'industrie des semiconducteurs (TXRF)

• Profilomètres optiques 3D sans contact
• Modules optiques pour visualisation de surfaces 3D

• Porte-échantillons double grille pour MET Jeol, Thermo Fisher et Hitachi
• Dispositif de remplissage automatique en azote liquide pour MET (doigt froid et porte échantillon cryo)

• Caméras pour MET / TEM très haute sensibilité

• Microanalyse X à sélection d’énergie (EDS) Pathfinder avec détecteur de rayons X Ultra Dry (jusqu’à 100mm2)
• Microanalyse X en dispersion de longueur d’onde (WDS) à faisceau focalisé, MagnaRay
• Système de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) standard (Quas Or 2) et avancé (Lumis)