Fournisseurs
Fournisseurs
DENSsolutions
Porte-Echantillons/Systèmes pour les expérimentations « in-situ » en microscopie électronique à transmission
- Wildfire (étude en dynamique de modifications par chauffage)
- Lightning (polarisation et chauffage)
- Climate (injection de gaz et chauffage pour l’étude des catalyseurs)
- Stream (étude de phénomènes dynamiques en milieu liquide)
Deben Research
- Détecteurs BSE, cathodo, STEM
- Caméras infrarouges
- Accesssoires pour MEB de table - MiniMEB Hitachi TM1000, TM3000, TM3030, TM3030+, TM4000, TM4000+
- Accessoires divers
Hitachi High-Tech
Pour la France, la Belgique Wallonne, le Luxembourg, la Suisse Romande, l'Algérie et le Maroc.
- Microscopes Electroniques à Balayage à pression variable
- Microscopes Electroniques à Balayage à effet de champ
- Microscopes Electroniques à Balayage de table
- FIB Focused Ion Beam
- Microscopes Electroniques à Transmission basse tension
- Microscopes Electroniques à Transmission haute tension
- STEM Scanning par Transmission
- Systèmes de mesure de l'Overlay
- Microscopes électroniques de revue de défauts
- Système d'inspection optique ou électronique
Hitachi High-Tech Science
- Spectromètres de fluorescence X par dispersion d'énergie
- Analyse Thermique
Hitachi Power Solutions
- Microscopes acoustiques/ Tomographes acoustiques (SAT)
IBSS
- Système de décontamination d’échantillons (MEB & MET) par plasma, ex-situ et in-situ
IXRF Systems
Spectromètres de fluorescences X à dispersion d’énergie (EDXRF) de table
Systèmes de microanalyse X à dispersion d’énergie (EDX, EDS) pour MEB
Système de micro-fluorescence X (µXRF) pour MEB
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Molecular Vista
- MOLECULAR VISTA, société américaine implantée en Californie à San José, développe et commercialise des microscopes à champ proche spécialisés dans les techniques IR-AFM et PiFM-AFM
Quartz Imaging Corporation
- Stations de numérisation d'images
- Bases de données
- Contrôle et gestion d'équipements à distance
Quorum Technologies
- Métalliseurs
- Evaporateurs
- Appareil de décharge luminescente
- Lyophilisateur
- Appareil pour point critique
- Platines cryogéniques
- Platine refroidie à effet Peltier
- Réacteur à plasma
Rigaku
- Spectromètres de fluorescence X par dispersion de longueur d'onde, dédiés à l’industrie des semiconducteurs (Wafer Analyzer)
- Spectromètres de fluorescence X en incidence rasante, par dispersion de longueur d'onde, dédiés à l'industrie des semiconducteurs (TXRF)
Sensofar
- Profilomètres optiques 3D sans contact
- Modules optiques pour visualisation de surfaces 3D
Simple Origin
- Porte-échantillons double grille pour MET Jeol, Thermo Fisher et Hitachi
- Dispositif de remplissage automatique en azote liquide pour MET (doigt froid et porte échantillon cryo)
Thermo Scientific
- Microanalyse X à sélection d’énergie (EDS) Pathfinder avec détecteur de rayons X Ultra Dry (jusqu’à 100mm2)
- Microanalyse X en dispersion de longueur d’onde (WDS) à faisceau focalisé, MagnaRay
- Système de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) standard (Quas Or 2) et avancé (Lumis)
