AFM 5100N

Microscope à force atomique

AFM 5100N

Le modèle 5100N est compact, polyvalent et permet d’utiliser de nombreux modes de caractérisation de l’extrême surface de l’échantillon sous air.
La fonction unique « Self Sensing Detector » procure une très grande facilité d’utilisation. Il n’est en effet pas nécessaire d’utiliser un laser pour aligner le détecteur.

Principales spécifications :

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Documents

Hitachi AFM Brochure
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