Dispositif de remplissage automatique en azote liquide pour MET SIMPLE ORIGIN

Microscopie Electronique à Balayage

Microscopie Electronique à Balayage de table

Microscope Electronique à Balayage (MEB) de table MiniMEB® TM4000 II/TM4000Plus II

Hitachi introduit la 5ème génération de MiniMEB® avec positionnement optique de l’échantillon. Avec plus de 3700 unités installées dans le monde, Hitachi confirme sa position de leader mondial du marché des Microscopes Electronique à Balayage de table (appelés aussi MiniMEB™ ou MEB de paillasse).

Microscopie Electronique à Balayage compact

Microscope Electronique à balayage (MEB) compact FlexSEM1000 II Hitachi

Le MEB compact HITACHI de troisième génération, modèle FlexSEM1000 II, succède aux modèles SU1510 et FlexSEM1000.

Microscope Electronique à Balayage à pression variable

MEB polyvalent à pression variable SU3800

Le MEB Hitachi SU3800 intègre une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.

MEB très grande chambre à pression variable SU3900

Le MEB Hitachi SU3900 intègre une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.

Microscope Electronique à effet de champ à pression variable

Microscope Electronique à effet de champ à pression variable SU 5000

Le MEB à effet de champ à cathode chaude Hitachi SU 5000 combine les avantages de la pression variable et de la haute résolution. Sa chambre analytique permet l'adaptation simultanée de nombreux équipements tels que EDS, WDS, EBSD, cathodoluminescence, etc....

MICROSCOPE ELECTRONIQUE À EFFET DE CHAMP À PRESSION VARIABLE SU7000

Le nouveau MEB à effet de champ analytique ultra haute résolution à cathode chaude HITACHI SU7000 répond aux nouvelles exigences toujours plus pointues et toujours plus variées des unités de recherche avancée ou des services de contrôle qualité industriels.

Microscope Electronique à Balayage à effet de champ

MEB à effet de champ Regulus 8220, Regulus 8230, Regulus 8240 : MEB ultra-haute résolution

La série des Microscope Electronique à Balayage à émission de champ « semi in-lens » Regulus 82** étend les fonctions de la série des SU8200 avec une meilleure résolution et des performances optimisées pour l'ultra-haute résolution à très basses énergies.

MEB à effet de champ Regulus 8100 : MEB haute résolution à cathode froide

Le MEB à émission de champ "semi in-lens" Hitachi Regulus 8100 est optimisé pour la haute résolution à haute et basse tensions d'accélération. Le Regulus 8100 succède au MEB SU8010 en offrant des fonctionnalités enrichies avec une résolution et des performances améliorées.

MEB à effet de champ SU 9000: MEB Ultra-haute résolution à cathode froide

Le MEB "in-lens" Hitachi SU9000 est dédié à l'ultra haute résolution (UHR SEM). Sans équivalent sur le plan des performances, il répond aux exigences des laboratoires "high tech" : les équipes "Failure Analysis" dans l'industrie des semi-conducteurs, ou celles qui travaillent sur la caractérisation des nano-matériaux, utilisent les MEB UHR Hitachi "in-lens".

FIB Focus Ion Beam

FIB Focus Ion Beam NX-2000 Hitachi

Le FIB NX-2000 HITACHI est équipé de trois canons. La colonne ionique à forte densité de courant (jusqu'à 100nA) est verticale. La colonne électronique ultra-haute résolution possède un canon à émission froide de nouvelle génération permettant l'observation de la zone amincie en temps réel. Un troisième canon émettant des ions Argon permet de réduire considérablement les dommages d'irradiation habituellement constatés avec les ions Gallium. La platine de débattements 200mmX200mm, le dispositif breveté "Micro Sampling" et de multiples possibilités d'injection de gaz complètent les caractéristiques du FIB Hitachi NX2000.

NX 9000 Hitachi

Microscopie Electronique à Transmission

Microscope Electronique à Transmission basse tension

Microscope Electronique à Transmission basse tension (META) HT-7800 Hitachi

MET 120 kV de nouvelle génération, entièrement numérique à l’ergonomie optimisée. Le MET Hitachi HT7800 basse tension a été conçu pour un large éventail de domaines, de la R&D biomédicale aux nanomatériaux. Il convient pour l'observation des échantillons fragiles et les polymères. C'est également la solution idéale pour les laboratoires d'analyse de l'amiante (META).

Microscope Electronique à Transmission haute tension

Microscope Electronique à Transmission haute tension H-9500 Hitachi

Le MET Hitachi H-9500 haute tension allie performance, haute résolution, stabilité et fiabilité. Le pilotage informatique et les caméras digitales proposent à l'opérateur une utilisation simple, conviviale et confortable de l'appareil. Ce MET haute tension à résolution atomique est l'équipement indispensable pour de nombreuses applications (semi-conducteurs, sciences...).

Microscope Electronique à Transmission haute tension HF-3300 Hitachi

Le MET HITACHI HF-3300 est un MET haute tension équipé d'une canon de type cathode froide de toute dernière génération. HITACHI développe cette technologie de cathode froide depuis plus de 25 ans et cette nouvelle génération de source fonctionne de 300 à 100kV est très stable et très brillante.

STEM Scanning par transmission

STEM Scanning par transmission HD-2700 Hitachi

Le STEM Hitachi HD-2700 est l'équipement incontournable pour l'avancée des nano-technologies. Il permet d'effectuer rapidement des analyses de haute performance et haute résolution.

FIB

FIB triple faisceau

Ethos-NX 5000 Hitachi : FIB Triple Faisceau

FIB Triple Faisceau hautes performances HITACHI ETHOS NX5000 Le nouveau FIB d’HITACHI polyvalent pour une préparation d’échantillons de qualité ultime

Equipements / Accessoires pour Microscopie Electronique

Equipements de préparation d'échantillons pour MEB

Polisseur ionique IM4000 Plus/ArBlade 5000 Hitachi

Les dernières générations de polisseur ionique Hitachi sont adaptées à la préparation de grandes surfaces.

Nettoyeur UV : ZONE sem Hitachi

Le ZONE sem, développé par HITACHI offre une solution efficace, très simple de mise en oeuvre et peu coûteuse, aux laboratoires qui souhaitent observer et analyser au MEB des échantillons sans les artéfacts provoqués par les contaminations de surface liées aux composés hydrocarbonés.

Métalliseurs (standards et haute résolution) Quorum Technologies

Références des métalliseurs sous vide primaire : SC7620 – Q150R S Plus Références des métalliseurs sous vide secondaire : Q150T S Plus – Q150V S Plus – Q300TT Plus – Q300TD Plus – Possibilité de combiner métalliseurs et évaporateurs carbone sur un même système (Références : SC7620 – Q150R ES Plus – Q150T ES Plus – Q150V ES Plus – Q150GB)

Évaporateurs Quorum Technologies

Références des évaporateurs sous vide primaire : Q150R E Plus Références des évaporateurs sous vide secondaire : Q150T E Plus – Q150V E Plus – K975X – K975S Possibilité de combiner métalliseurs et évaporateurs carbone sur un même système (Références : Q150R ES Plus – Q150T ES Plus – Q150V ES Plus – Q150GB)

Platines cryogéniques Quorum Technologies

Références des platines cryogéniques Quorum Technologies : PP3010T - Nouveau

Point critique Quorum Technologies

Références des points critiques Quorum Technologies : E3100- K850- K850WM

Lyophilisateurs Quorum Technologies

Références des lyophilisateurs Quorum Technologies :- K750X- K775X

Réacteurs à Plasma Quorum Technologies

Références des réacteurs à Plasma Quorum Technologies : K1050X- K1050XT

Décharge luminescente Quorum Technologies

Références des systèmes de décharges luminescentes Quorum Technologies : GloQube – SC7620

Sas et Platine Froide

IBSS Nettoyeur plasma « in-situ » et « ex-situ »

Notre fournisseur IBSS Group offre différentes solutions innovantes de décontamination par plasma faible énergie, pour la microscopie électronique (MEB, MET, FIB et CDSEM)

UVD-STEM Hitachi

Obtenez des images transmises de haute qualité dans votre MEB Hitachi à moindre coût par rapport à un système STEM dédié avec le tout nouveau support UVD STEM. Le support UVD STEM utilise le détecteur SE à pression variable d'Hitachi et la technologie de scintillateur très haute sensibilité pour permettre la collecte d'images de transmission à haute résolution et à faible bruit.

Equipements de préparation d'échantillons pour MET

Nettoyeur UV: ZONE tem Hitachi

Le ZONE tem, développé par HITACHI offre une solution efficace, très simple de mise en oeuvre et peu coûteuse, aux laboratoires qui souhaitent observer et analyser au MET des échantillons sans les artéfacts provoqués par les contaminations de surface liées aux composés hydrocarbonés.

Appareil à décharge luminescente autonome (Glow Discharge) GloQube Quorum Technologies

Le GloQube est un appareil à décharge luminescente (Glow Discharge) innovant qui comble les lacunes des solutions existant actuellement sur le marché. Certifié CE, le GloQube présente de nombreux avantages. Il dispose de deux chambres indépendantes permettant de mener des process à l’atmosphère ou sous gaz particulier sans risque de contamination croisée. La mise en place des ampoules se fait en toute sécurité. Le GloQube reprend certaines fonctionnalités qui ont fait le succès des métalliseurs/évaporateurs de la gamme Q150, telle qu’une interface de contrôle interactive qui permet de mettre en mémoire des conditions opératoires optimisées et donne accès à des mises à jour par logiciel.

IBSS Nettoyeur plasma « ex-situ »

Notre fournisseur IBSS Group offre différentes solutions innovantes de décontamination par plasma faible énergie, pour la microscopie électronique (MEB, MET, FIB et CDSEM)

Liquide Ionique pour MEB et MET

HiLEM IL1000 liquide ionique

Accessoires pour MEB

Détecteurs BSE Deben - KED

Détecteurs STEM Deben - KED

Détecteur de cathodoluminescence Deben - KED

Caméra infrarouge Deben- KED

Accessoires divers Deben - KED : EBIC, picoampèremètre...

Modules pour informatiser des MEB analogiques Quartz

Vous pourrez retrouver prochainement le descriptif de l'appareil sur cette page

Bases de données images Quartz

Vous pourrez retrouver prochainement le descriptif de l'appareil sur cette page

Serveur pour la gestion d'un parc d'équipements Quartz

Vous pourrez retrouver prochainement le descriptif de l'appareil sur cette page

Contrôle de MEB à distance Quartz

Vous pourrez retrouver prochainement le descriptif de l'appareil sur cette page

Caméras pour MET

Caméras très haute sensibilité TVIPS XF416

Caméra pour MET très haute sensibilité TVIPS XF416 adaptée à l’observation de phénomènes fugitifs et d’échantillons très sensibles.

Caméras CMOS et CCD AMT

AMT (Advanced Microscopy Techniques) propose une large gamme de caméras pour MET de toutes marques (FEI, HITACHI, JEOL, ZEISS).

Porte-Echantillons/Systèmes pour MET

WILDFIRE, CHAUFFAGE MET IN-SITU DENSsolutions

La solution « Wildfire In Situ Heating » permet d’effectuer des études thermiques dans un environnement contrôlé et stable au sein de votre MET. Adapté à de nombreux domaines d’application, la série « Wildfire In Situ Heating » transformera votre MET en une plateforme d’expérimentations dynamiques.

LIGHTNING, CHAUFFAGE ET POLARISATION MET IN-SITU DENSsolutions

La solution « Lightning In Situ TEM Biasing & Heating » permet d'observer la dynamique en temps réel de votre échantillon dans un environnement électrique et thermique contrôlables tout en maintenant la résolution atomique du MET. Les nanopuces spécifiques optimisent l’efficacité des expériences dynamiques visant à mieux comprendre la structure et les propriétés des matériaux observés à l’échelle nanométrique.

CLIMATE, GAZ ET CHAUFFAGE IN-SITU DENSsolutions

Une compréhension détaillée du nanomonde est nécessaire pour aider à trouver des solutions à de nombreux défis que nous devons relever. La solution « Climate Gas & Heating » permet d'étudier le monde nanométrique dans un environnement réel de gaz et de chauffage. Ces tests peuvent maintenant être effectués à l'intérieur de votre MET haute résolution, montrant la dynamique des interactions gaz-solide via des images stables à l'échelle nanométrique grâce au Nanoréacteur de DENSsolutions.

STREAM, LIQUIDE ET POLARISATION OU CHAUFFAGE IN-SITU DENSSOLUTIONS

La microscopie en phase liquide est devenue de plus en plus populaire, car elle permet de mieux comprendre les processus importants essentiels pour la recherche en sciences des matériaux. La solution « Stream » change radicalement la mise en œuvre des expériences en environnement.

Porte-échantillon cryo double grille pour MET SIMPLE ORIGIN

Dispositif de remplissage automatique en azote liquide pour MET SIMPLE ORIGIN

Microanalyse X

EDS avec cartographie spectrale

EDS avec cartographie spectrale Pathfinder Thermo Scientific

Le nouveau logiciel de microanalyse par rayons X Thermo Scientific Pathfinder, entièrement numérique, fonctionne avec votre microscope électronique pour la spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS).

Pathfinder Compact avec cartographie spectrale Thermo Scientific

Le système de microanalyse X Thermo Scientific de dernière génération, Pathfinder Compact, est entièrement dédié au microscope électronique à balayage de table.

Détecteur Silicon Drift sans azote liquide

Détecteur SDD sans azote liquide Thermo Scientific Ultradry

Thermo Scientific enrichit sa gamme de détecteurs Silicon Drift sans azote liquide.

WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS)

WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS) MagnaRay Thermo Scientific

Le WDS à faisceau focalisé Thermo Scientific MagnaRay est optimisé pour l'utilisation de faibles courants et/ou de basses tensions d'accélération.

EBSD

EBSD QuasOr 2 Thermo Scientific

Le système EBSD pour microscope électronique à balayage Thermo Scientific QuasOr 2 s'intégre dans la plateforme NS7.

NOUVEAU SYSTÈME EBSD THERMO SCIENTIFIC LUMIS

Le système EBSD Thermo Scientific ™ Lumis de dernière génération représente la solution la plus aboutie actuellement en termes de sensibilité et de rapidité combinées.

Profilomètres optiques

Profilomètres optiques 3D sans contact

S neox : profilomètre optique 3D hautes performances

Le nouveau profilomètre optique 3D sans contact, de cinquième génération, SENSOFAR S NEOX procure une rapidité de production des images et des résultats d’analyse inégalée.

S neox Five Axis : profilomètre optique 3D hautes performances avec déplacements de l’échantillon sur cinq axes

Le nouveau profilomètre optique 3D sans contact, SENSOFAR S NEOX Five Axis procure une rapidité de production des images et des résultats d’analyse inégalée.

S lynx : profilomètre optique 3D compacte

Le profilomètre optique 3D sans contact compact SENSOFAR S LYNX offre une grande variété de fonctionnalités. 3 technologies complémentaires sont intégrées : Confocale, Interférométrie, Variation de Focus, procurant de multiples possibilités d’observation et d’analyse tridimensionnelle quelque soit la nature de l’échantillon et des informations de surface recherchées.

S wide : profilomètre optique 3D grande surface

Le S wide est un système de métrologie optique 3D sans contact à haute performance pour les grandes surfaces, conçu pour les mesures à micro-échelle, avec des capacités de contrôle et d'analyse avancées.

Modules optiques pour visualisation de surfaces 3D

S mart : module optique 3D

Le module de profilomètre optique 3D sans contact SENSOFAR S MART peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels.

S onix : module optique 3D ultra rapide

Le module de profilomètre optique 3D sans contact ultra rapide SENSOFAR S ONYX peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels nécessitant la plus grande vitesse d’acquisition et de traitement des données.

Microscopie à force atomique

Microscope à Champ Proche Infrarouge

« Vista-IR » Molecular Vista Microscope nano FTIR

Sa technique unique brevetée de microscopie à force photo-induite (PiFM) mesure la réponse optique du champ proche de l'échantillon par détection de force mécanique, rendant la technique robuste et facile à utiliser. Le spectre PiFM fiable et répétable obtenu offre un spectre "nano-FTIR" en moins d'une seconde.

Microscopie / Tomographie acoustique

Microscope / Tomographe acoustique Fine SAT V

Microscope / tomographe acoustique Fine SAT V

Hitachi introduit un nouveau microscope/tomographe acoustique: le modèle Fine SAT V. Plus rapide (vitesse de balayage jusqu'à 2000mm/s), plus précis (scanner haute définition permettant d'acquérir jusqu'à 2000 millions de points), plus résolutif (défauts visibles à partir du micromètre), le Fine SAT V est pourvu d'une ergonomie optimisée (chargement rapide et sans risque des échantillons, visualistaion de l'échantillon en cuors d'analyse).

Fluorescence X

Spectromètre de Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)

Fluorescence X à dispersion d'énergie EA 1000A

Le EA 1000A est un appareil dedié à la detection des substances bannies par la directive ROHS (plomb, mercure, cadanium, chrome hexalvent, PBB, PBDE) de manière simple, rapide et non destructive.Grâce au SEA 1000A , le contrôle des ROHS et autres matières "dangereuses" n'est plus une contrainte.

Fluorescence X à dispersion d'énergie EA 1200VX

Le EA 1200VX est un spectromètre de florescence X compact et universel.

Fluorescence X à dispersion d'énergie FT 150

Le FT 150 est un appareil de mesure d'épaisseur de haute performance permettant la détection de revêtement extrêmement fins.

Fluorescence X à dispersion d'énergie FT 110

Le FT 110 est le dernier modèle de la gamme XRF à dispersion d'énergie dédié à l'analyse de couches minces et de dépôts.

Fluorescence X à dispersion d'énergie EA 6000

L'EA 6000 est un spectromètre de Fluorescence X à dispersion d'énergie. Spectromètre versatile pour la mesure de grands échantillons avec mapping et micro analyse. Fonction ROHs

Analyse Thermique

STA Series

STA7000 Series

Les séries STA7000 sont des analyseurs thermiques offrant la mesure simultanée TG/DSC.

STA7200RV

DSC Series

DSC7000X Series

DSC7020

TMA Series

TMA7000

L’analyse mécanique thermique d’Hitachi permet d’explorer, toutes les formes de déformations mécaniques induites grâce à une très large gamme de sonde.

DMA Series

DMA7100

Avec le DMA7100 Hitachi met à la disposition de tous les laboratoires un équipement d’analyse thermique en Dynamique, simple, précis et couvrant une large gamme d’applications.

TA SOFTWARE

TA7000 SOFTWARE

La gamme d’analyseur Hitachi bénéficie du tout nouveau Logiciel TA7000.