Microscopie Electronique à Balayage
Microscopie Electronique à Balayage de table
Microscope Electronique à Balayage (MEB) de table MiniMEB® TM4000 II/TM4000Plus II
Hitachi introduit la 5ème génération de MiniMEB® avec positionnement optique de l’échantillon. Avec plus de 3700 unités installées dans le monde, Hitachi confirme sa position de leader mondial du marché des Microscopes Electronique à Balayage de table (appelés aussi MiniMEB™ ou MEB de paillasse).
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Microscopie Electronique à Balayage compact
Microscope Electronique à balayage (MEB) compact FlexSEM1000 II Hitachi
Le MEB compact HITACHI de troisième génération, modèle FlexSEM1000 II, succède aux modèles SU1510 et FlexSEM1000.
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Microscope Electronique à Balayage à pression variable
MEB polyvalent à pression variable SU3800
Le MEB Hitachi SU3800 intègre une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.
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MEB très grande chambre à pression variable SU3900
Le MEB Hitachi SU3900 intègre une nouvelle technologie appelée « IFT » (Intelligent Filament Technology) qui permet à l’utilisateur de travailler avec un courant d’émission constant et extrêmement stable pour l’ensemble des tensions d’accélération. De plus, le logiciel informe en temps réel de la durée de vie restante du filament. La durée de vie est typiquement augmentée d’un facteur x3.
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Microscope Electronique à effet de champ à pression variable
Microscope Electronique à effet de champ à pression variable SU 5000
Le MEB à effet de champ à cathode chaude Hitachi SU 5000 combine les avantages de la pression variable et de la haute résolution. Sa chambre analytique permet l'adaptation simultanée de nombreux équipements tels que EDS, WDS, EBSD, cathodoluminescence, etc....
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MICROSCOPE ELECTRONIQUE À EFFET DE CHAMP À PRESSION VARIABLE SU7000
Le nouveau MEB à effet de champ analytique ultra haute résolution à cathode chaude HITACHI SU7000 répond aux nouvelles exigences toujours plus pointues et toujours plus variées des unités de recherche avancée ou des services de contrôle qualité industriels.
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Microscope électronique à effet de champs à pression variable SU8700
Le MEB FEG HR à cathode chaude Hitachi SU8700 peut être configuré avec ou sans le mode "pression variable". La colonne électronique est équipée d'un booster et de plusieurs détecteurs d'électrons complémentaires. La résolution garantie est subnanométrique de 1kV à 30kV.
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Microscope Electronique à Balayage à effet de champ
MEB A EFFET DE CHAMP ULTRA HAUTE RESOLUTION A CATHODE FROIDE SU8600
Le MEB FEG UHR à cathode froide Hitachi SU8600 affiche une résolution très inférieure à 1 nm dans toute la gamme de tensions d'accélération disponible.
De nouveaux détecteurs et une interface logicielle modernisée permettent d'obtenir facilement des images de vos échantillons variées, jusqu'aux grandissements ultimes.
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MEB à effet de champ SU 9000: MEB Ultra-haute résolution à cathode froide
Le MEB "in-lens" Hitachi SU9000 est dédié à l'ultra haute résolution (UHR SEM). Sans équivalent sur le plan des performances, il répond aux exigences des laboratoires "high tech" : les équipes "Failure Analysis" dans l'industrie des semi-conducteurs, ou celles qui travaillent sur la caractérisation des nano-matériaux, utilisent les MEB UHR Hitachi "in-lens".
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FIB Focus Ion Beam
FIB Focus Ion Beam NX-2000 Hitachi
Le FIB NX-2000 HITACHI est équipé de trois canons. La colonne ionique à forte densité de courant (jusqu'à 100nA) est verticale. La colonne électronique ultra-haute résolution possède un canon à émission froide de nouvelle génération permettant l'observation de la zone amincie en temps réel. Un troisième canon émettant des ions Argon permet de réduire considérablement les dommages d'irradiation habituellement constatés avec les ions Gallium.
La platine de débattements 200mmX200mm, le dispositif breveté "Micro Sampling" et de multiples possibilités d'injection de gaz complètent les caractéristiques du FIB Hitachi NX2000.
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Microscopie Electronique à Transmission
Microscope Electronique à Transmission basse tension
Microscope Electronique à Transmission basse tension (META) HT-7800 Hitachi
MET 120 kV de nouvelle génération, entièrement numérique à l’ergonomie optimisée. Le MET Hitachi HT7800 basse tension a été conçu pour un large éventail de domaines, de la R&D biomédicale aux nanomatériaux. Il convient pour l'observation des échantillons fragiles et les polymères. C'est également la solution idéale pour les laboratoires d'analyse de l'amiante (META).
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Microscope Electronique à Transmission haute tension
Microscope Electronique à Transmission haute tension H-9500 Hitachi
Le MET Hitachi H-9500 haute tension allie performance, haute résolution, stabilité et fiabilité. Le pilotage informatique et les caméras digitales proposent à l'opérateur une utilisation simple, conviviale et confortable de l'appareil. Ce MET haute tension à résolution atomique est l'équipement indispensable pour de nombreuses applications (semi-conducteurs, sciences...).
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Microscope Electronique à Transmission haute tension HF-3300 Hitachi
Le MET HITACHI HF-3300 est un MET haute tension équipé d'une canon de type cathode froide de toute dernière génération. HITACHI développe cette technologie de cathode froide depuis plus de 25 ans et cette nouvelle génération de source fonctionne de 300 à 100kV est très stable et très brillante.
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STEM Scanning par transmission
STEM Scanning par transmission HD-2700 Hitachi
Le STEM Hitachi HD-2700 est l'équipement incontournable pour l'avancée des nano-technologies. Il permet d'effectuer rapidement des analyses de haute performance et haute résolution.
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FIB
FIB triple faisceau
Ethos-NX 5000 Hitachi : FIB Triple Faisceau
FIB Triple Faisceau hautes performances HITACHI ETHOS NX5000
Le nouveau FIB d’HITACHI polyvalent pour une préparation d’échantillons de qualité ultime
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Equipements / Accessoires pour Microscopie Electronique
Equipements de préparation d'échantillons pour MEB
Polisseur ionique IM4000 Plus/ArBlade 5000 Hitachi
Les dernières générations de polisseur ionique Hitachi sont adaptées à la préparation de grandes surfaces.
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Nettoyeur UV : ZONE sem II Hitachi
Le ZONE sem II, développé par HITACHI offre une solution efficace, très simple de mise en œuvre et peu coûteuse, aux laboratoires qui souhaitent observer et analyser au MEB des échantillons sans les artéfacts provoqués par les contaminations de surface liées aux composés hydrocarbonés.
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Métalliseurs (standards et haute résolution) Quorum Technologies
Références des métalliseurs sous vide primaire : SC7620 – Q150R S Plus
Références des métalliseurs sous vide secondaire : Q150T S Plus – Q150V S Plus – Q300TT Plus – Q300TD Plus –
Possibilité de combiner métalliseurs et évaporateurs carbone sur un même système (Références : SC7620 – Q150R ES Plus – Q150T ES Plus – Q150V ES Plus – Q150GB)
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Évaporateurs Quorum Technologies
Références des évaporateurs sous vide primaire : Q150R E Plus
Références des évaporateurs sous vide secondaire : Q150T E Plus – Q150V E Plus – K975X – K975S
Possibilité de combiner métalliseurs et évaporateurs carbone sur un même système (Références : Q150R ES Plus – Q150T ES Plus – Q150V ES Plus – Q150GB)
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Platines cryogéniques Quorum Technologies
Références des platines cryogéniques Quorum Technologies : PP3010T - Nouveau
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Point critique Quorum Technologies
Références des points critiques Quorum Technologies : E3100- K850- K850WM
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Lyophilisateurs Quorum Technologies
Références des lyophilisateurs Quorum Technologies :- K750X- K775X
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Réacteurs à Plasma Quorum Technologies
Références des réacteurs à Plasma Quorum Technologies : K1050X- K1050XT
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Décharge luminescente Quorum Technologies
Références des systèmes de décharges luminescentes Quorum Technologies : GloQube – SC7620
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IBSS Nettoyeur plasma « in-situ » et « ex-situ »
Notre fournisseur IBSS Group offre différentes solutions innovantes de décontamination par plasma faible énergie, pour la microscopie électronique (MEB, MET, FIB et CDSEM)
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UVD-STEM Hitachi
Obtenez des images transmises de haute qualité dans votre MEB Hitachi à moindre coût par rapport à un système STEM dédié avec le tout nouveau support UVD STEM. Le support UVD STEM utilise le détecteur SE à pression variable d'Hitachi et la technologie de scintillateur très haute sensibilité pour permettre la collecte d'images de transmission à haute résolution et à faible bruit.
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Equipements de préparation d'échantillons pour MET
Nettoyeur UV : ZONE tem II Hitachi
Le ZONE tem II, développé par HITACHI offre une solution efficace, très simple de mise en oeuvre et peu coûteuse, aux laboratoires qui souhaitent observer et analyser au MET des échantillons sans les artéfacts provoqués par les contaminations de surface liées aux composés hydrocarbonés.
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Appareil à décharge luminescente autonome (Glow Discharge) GloQube Quorum Technologies
Le GloQube est un appareil à décharge luminescente (Glow Discharge) innovant qui comble les lacunes des solutions existant actuellement sur le marché.
Certifié CE, le GloQube présente de nombreux avantages. Il dispose de deux chambres indépendantes permettant de mener des process à l’atmosphère ou sous gaz particulier sans risque de contamination croisée. La mise en place des ampoules se fait en toute sécurité. Le GloQube reprend certaines fonctionnalités qui ont fait le succès des métalliseurs/évaporateurs de la gamme Q150, telle qu’une interface de contrôle interactive qui permet de mettre en mémoire des conditions opératoires optimisées et donne accès à des mises à jour par logiciel.
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IBSS Nettoyeur plasma « ex-situ »
Notre fournisseur IBSS Group offre différentes solutions innovantes de décontamination par plasma faible énergie, pour la microscopie électronique (MEB, MET, FIB et CDSEM)
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Liquide Ionique pour MEB et MET
Accessoires pour MEB
Accessoires divers Deben - KED : EBIC, picoampèremètre...
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Modules pour informatiser des MEB analogiques Quartz
Vous pourrez retrouver prochainement le descriptif de l'appareil sur cette page
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Bases de données images Quartz
Vous pourrez retrouver prochainement le descriptif de l'appareil sur cette page
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Serveur pour la gestion d'un parc d'équipements Quartz
Vous pourrez retrouver prochainement le descriptif de l'appareil sur cette page
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Contrôle de MEB à distance Quartz
Vous pourrez retrouver prochainement le descriptif de l'appareil sur cette page
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Caméras pour MET
Caméras très haute sensibilité TVIPS XF416
Caméra pour MET très haute sensibilité TVIPS XF416 adaptée à l’observation de phénomènes fugitifs et d’échantillons très sensibles.
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Caméras CMOS et CCD AMT
AMT (Advanced Microscopy Techniques) propose une large gamme de caméras pour MET de toutes marques (FEI, HITACHI, JEOL, ZEISS).
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Porte-Echantillons/Systèmes pour MET
WILDFIRE, CHAUFFAGE MET IN-SITU DENSsolutions
La solution « Wildfire In Situ Heating » permet d’effectuer des études thermiques dans un environnement contrôlé et stable au sein de votre MET. Adapté à de nombreux domaines d’application, la série « Wildfire In Situ Heating » transformera votre MET en une plateforme d’expérimentations dynamiques.
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LIGHTNING, CHAUFFAGE ET POLARISATION MET IN-SITU DENSsolutions
La solution « Lightning In Situ TEM Biasing & Heating » permet d'observer la dynamique en temps réel de votre échantillon dans un environnement électrique et thermique contrôlables tout en maintenant la résolution atomique du MET. Les nanopuces spécifiques optimisent l’efficacité des expériences dynamiques visant à mieux comprendre la structure et les propriétés des matériaux observés à l’échelle nanométrique.
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CLIMATE, GAZ ET CHAUFFAGE IN-SITU DENSsolutions
Une compréhension détaillée du nanomonde est nécessaire pour aider à trouver des solutions à de nombreux défis que nous devons relever. La solution « Climate Gas & Heating » permet d'étudier le monde nanométrique dans un environnement réel de gaz et de chauffage. Ces tests peuvent maintenant être effectués à l'intérieur de votre MET haute résolution, montrant la dynamique des interactions gaz-solide via des images stables à l'échelle nanométrique grâce au Nanoréacteur de DENSsolutions.
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STREAM, LIQUIDE ET POLARISATION OU CHAUFFAGE IN-SITU DENSSOLUTIONS
La microscopie en phase liquide est devenue de plus en plus populaire, car elle permet de mieux comprendre les processus importants essentiels pour la recherche en sciences des matériaux.
La solution « Stream » change radicalement la mise en œuvre des expériences en environnement.
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Porte-échantillon cryo double grille pour MET SIMPLE ORIGIN
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Dispositif de remplissage automatique en azote liquide pour MET SIMPLE ORIGIN
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Microanalyse X
EDS + µXRF
EDS + µXRF
IXRF SYSTEMS propose une solution combinée EDS (Spectromètre de rayons X sélectif en énergie) + µXRF (Microfluorescence X) pour les microscopes électroniques à balayage de toutes marques. L'analyseur stocke les spectres complets de chaque pixel de la carte pour une analyse en ligne ou hors ligne.
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EDS avec cartographie spectrale
EDS avec cartographie spectrale Pathfinder Thermo Scientific
Le nouveau logiciel de microanalyse par rayons X Thermo Scientific Pathfinder, entièrement numérique, fonctionne avec votre microscope électronique pour la spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS).
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Pathfinder Compact avec cartographie spectrale Thermo Scientific
Le système de microanalyse X Thermo Scientific de dernière génération, Pathfinder Compact, est entièrement dédié au microscope électronique à balayage de table.
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Détecteur Silicon Drift sans azote liquide
Détecteur SDD sans azote liquide Thermo Scientific Ultradry
Thermo Scientific enrichit sa gamme de détecteurs Silicon Drift sans azote liquide.
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WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS)
WDS standard ou à faisceau focalisé (PBS) MagnaRay Thermo Scientific
Le WDS à faisceau focalisé Thermo Scientific MagnaRay est optimisé pour l'utilisation de faibles courants et/ou de basses tensions d'accélération.
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EBSD
EBSD QuasOr 2 Thermo Scientific
Le système EBSD pour microscope électronique à balayage Thermo Scientific QuasOr 2 s'intégre dans la plateforme NS7.
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NOUVEAU SYSTÈME EBSD THERMO SCIENTIFIC LUMIS
Le système EBSD Thermo Scientific ™ Lumis de dernière génération représente la solution la plus aboutie actuellement en termes de sensibilité et de rapidité combinées.
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Profilomètres optiques
Profilomètres optiques 3D sans contact
S neox : profilomètre optique 3D hautes performances
Le nouveau profilomètre optique 3D sans contact, de cinquième génération, SENSOFAR S NEOX procure une rapidité de production des images et des résultats d’analyse inégalée.
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S neox Five Axis : profilomètre optique 3D hautes performances avec déplacements de l’échantillon sur cinq axes
Le nouveau profilomètre optique 3D sans contact, SENSOFAR S NEOX Five Axis procure une rapidité de production des images et des résultats d’analyse inégalée.
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S lynx : profilomètre optique 3D compacte
Le profilomètre optique 3D sans contact compact SENSOFAR S LYNX offre une grande variété de fonctionnalités. 3 technologies complémentaires sont intégrées : Confocale, Interférométrie, Variation de Focus, procurant de multiples possibilités d’observation et d’analyse tridimensionnelle quelque soit la nature de l’échantillon et des informations de surface recherchées.
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S wide : profilomètre optique 3D grande surface
Le S wide est un système de métrologie optique 3D sans contact à haute performance pour les grandes surfaces, conçu pour les mesures à micro-échelle, avec des capacités de contrôle et d'analyse avancées.
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Modules optiques pour visualisation de surfaces 3D
S mart : module optique 3D
Le module de profilomètre optique 3D sans contact SENSOFAR S MART peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels.
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S onix : module optique 3D ultra rapide
Le module de profilomètre optique 3D sans contact ultra rapide SENSOFAR S ONYX peut être customisé pour répondre aux besoins de métrologie de surface 3D industriels nécessitant la plus grande vitesse d’acquisition et de traitement des données.
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Microscopie à force atomique
Microscope à Champ Proche Infrarouge
« Vista-IR » Molecular Vista Microscope nano FTIR
Sa technique unique brevetée de microscopie à force photo-induite (PiFM) mesure la réponse optique du champ proche de l'échantillon par détection de force mécanique, rendant la technique robuste et facile à utiliser. Le spectre PiFM fiable et répétable obtenu offre un spectre "nano-FTIR" en moins d'une seconde.
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Microscopie / Tomographie acoustique
Microscope / Tomographe acoustique Fine SAT V
Microscope / tomographe acoustique Fine SAT V
Hitachi introduit un nouveau microscope/tomographe acoustique: le modèle Fine SAT V.
Plus rapide (vitesse de balayage jusqu'à 2000mm/s), plus précis (scanner haute définition permettant d'acquérir jusqu'à 2000 millions de points), plus résolutif (défauts visibles à partir du micromètre), le Fine SAT V est pourvu d'une ergonomie optimisée (chargement rapide et sans risque des échantillons, visualistaion de l'échantillon en cuors d'analyse).
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Fluorescence X
Spectromètre de Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
Spectromètres à fluorescence X série ATLAS
IXRF SYSTEMS propose une gamme complète de systèmes de micro-fluorescence X à dispersion d’énergie, série ATLAS.
L’ATLAS M est le modèle dit de table ou de paillasse et couvre une très large palette d’applications
L’ATLAS X est adapté aux très grands échantillons
L’ATLAS SEMI est spécifique à l’industrie des semiconducteurs, il est notamment bien adapté à la mesure de couches minces
La plateforme logicielle Iridium Ultra d'ATLAS intègre de base de très nombreuses fonctionnalités telles que la cartographie élémentaire et de phases chimiques, des mesures dimensionnelles, des analyses élémentaires qualitatives et quantitatives de solides, liquides, particules, poudres et films minces.
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Spectromètre de micro-fluorescence X grande chambre IXRF ATLAS X
Le spectromètre de micro-fluorescence X (µEDXRF ou micro XRF) grande chambre ATLAS X d'IXRF Systems à micro spot est optimisé pour la mesure et l'imagerie/cartographie d'éléments allant du sodium (Na) à l'uranium (U). Il peut recevoir de très grands échantillons (320mm x 320mm x 120mm)
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Spectromètre de micro-fluorescence X dédié Semiconducteurs IXRF ATLAS X
Le spectromètre de micro-fluorescence X (µEDXRF ou micro XRF) grande chambre ATLAS SEMI d'IXRF Systems est doté de la chambre à échantillon la plus volumineuse de l'industrie, ce qui permet l'automatisation d'un plus grand nombre d'échantillons, des capacités de cartographie de plus grande surface et une plus grande variabilité des types d'échantillons pouvant être analysés. Dimensions de la chambre à échantillon : 940 x 660 x 355 mm (37 x 26 x 14 pouces).
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