MICROSCOPE ELECTRONIQUE À EFFET DE CHAMP À PRESSION VARIABLE SU7000

Microscope Electronique à effet de champ à pression variable

MICROSCOPE ELECTRONIQUE À EFFET DE CHAMP À PRESSION VARIABLE SU7000

Le nouveau MEB à effet de champ analytique ultra haute résolution à cathode chaude HITACHI SU7000 répond aux nouvelles exigences toujours plus pointues et toujours plus variées des unités de recherche avancée ou des services de contrôle qualité industriels.

Le SU7000 combine l’ultra haute résolution (moins d’1nm sur toute la gamme de tensions d’accélération) et des performances analytiques exceptionnelles (courant de sonde max de 200nA, distance analytique de 6mm pour tous les détecteurs).

Equipé d'une très grande chambre, le SU7000 dispose de 18 ports d’accès pour l’installation de dispositifs complémentaires. La platine eucentrique très grands déplacements, motorisée sur les 5 axes, est robuste et facilement accessible de l’extérieur de la chambre pour la mise en place des échantillons

Le SU7000 dispose du mode « Low vacuum », avec ajustement de la pression de consigne dans la chambre dans une large gamme, jusqu’à 300 Pa.

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Documents

Brochure SU7000
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