Spectromètres à fluorescence X série ATLAS

Nous contacter

Spectromètre de Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)

Spectromètres à fluorescence X série ATLAS

IXRF SYSTEMS propose une gamme complète de systèmes de micro-fluorescence X à dispersion d’énergie, série ATLAS.
L’ATLAS M est le modèle dit de table ou de paillasse et couvre une très large palette d’applications
L’ATLAS X est adapté aux très grands échantillons
L’ATLAS SEMI est spécifique à l’industrie des semiconducteurs, il est notamment bien adapté à la mesure de couches minces
La plateforme logicielle Iridium Ultra d'ATLAS intègre de base de très nombreuses fonctionnalités telles que la cartographie élémentaire et de phases chimiques, des mesures dimensionnelles, des analyses élémentaires qualitatives et quantitatives de solides, liquides, particules, poudres et films minces.

Le spectromètre de micro-fluorescence X (µEDXRF ou micro XRF) de paillasse ATLAS M d'IXRF Systems est d’utilisation générale et assure la cartographie des éléments allant du sodium (Na) à l'uranium (U). Conçu pour imager et analyser une grande variété d'échantillons, l'ATLAS est une référence dans l'industrie.

Son logiciel IRIDIUM Ultra est le plus complet du marché, l’ATLAS dispose de la plus grande surface active de détecteur.

Le tube à rayons X est en position normale et assure des spots de très petite dimension.

 

Pour plus d'informations

Recevoir notre brochure Electronique