XE7

Atomic Force Microscope AFM

XE7

LE choix économique pour la recherche

L’AFM Park Systems XE7 dispose de toutes les technologies que vous êtes en état d’attendre de la part des équipements Park Systems tout en état à un prix abordable pour votre laboratoire. Conçu avec le même souci du détail que les modèles les plus avancés, l'AFM Park Systems XE7 vous permet d’effectuer vos recherches dans votre budget alloué.

 

La première caractéristique du système est le mode « True Non Contact ». Breveté par Park Systems, ce dernier garanti une reproductibilité ultime des résultats, une précision des mesures sans équivalent et une durée de vie des pointes qu'aucun autre AFM ne peut atteindre.

 

A cela s'ajoute :

-Le découplage des scanners X, Y et Z permettant d'atteindre une parfaite linéarité / orthogonalité et une absence d'hystérésis.

-Une optique « OnAxis » permettant une facilité d'observation et de positionnement.

-Une tête AFM pouvant facilement s'enlever et se repositionner.

-Une facilité d'accès à la pointe ainsi qu'à l'échantillon.

 

SCANNER

XY : 10µm x 10µm

(50x50 & 100x100 optionnels)

Z : 12µm (25µm optionnel)

Bruit topographique [lt] 0.03nm

OPTIQUE

Objectif : 10x (20x optionnel)

 

STAGE

XY : 13mm x 13mm

Z : 29.5mm

Focalisation : 70mm

Taille échantillon : [lt] 100x100mm ; épaisseur [lt] 20mm

 

ELECTRONIQUE

DSP : 600MHz ; 4800MIPS

ADC : 20 canaux 16bits

DAC : 21 canaux 16bits

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Documents

PARK SYSTEMS XE7
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Brochure Park Systems
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